allPIXA evo 8k DXGE X

Die allPIXA evo 8k bietet CMOS-Leistung mit CCD-Bildqualität. Der neuartige Mehrzeilen CMOS-Sensor bietet TDI-Optionen für Farbe oder Mono bei hoher Geschwindigkeit. Zeilenraten von bis zu 90 kHz für 8k in Farbe sind mit der schnellen und kosteneffizienten Dual 10 GigE-Schnittstelle möglich.

Mit Zeilen und Frame-Trigger-Optionen, variablem Encoder-Eingang und Farbkonvertierungsmöglichkeiten ist die allPIXA evo 8k die beste Wahl für hochauflösende Bahn- und Druckinspektionsanwendungen mit hoher Geschwindigkeit.

3DPIXA pro dual 70µm

Die Chromasens 3DPIXA pro dual 70µm kombiniert State-of-the-Art Zeilenkameratechnologie mit schneller 3D-Stereoberechnung auf Grafikkarten. Die Stereo-Zeilenkamera liefert gleichzeitig 3D-Daten und Farbbilder. Diese Technologie ermöglicht es eine für die Anwedung optimierte Beleuchtung einzusetzen.

Erste Chromasens SWIR Kamera

Fr., 11.12.2020

Die allPIXA SWIR ist die erste kurzwellige Infrarot-Zeilenkamera (SWIR) der Chromasens allPIXA-Familie.

3DPIXA compact 30µm

Für schnelle und präzise 3D-Messungen ist die 3DPIXA ideal geeignet. Mit der einzigartigen Kombination aus Zeilenkameratechnologie und schneller 3D-Stereoberechnung auf Grafikkarten liefert die 3DPIXA compact 30µm gleichzeitig 3D Daten und Farbbilder. Alle Beleuchtungsarten können prinzipiell zur Bilderfassung mit der 3DPIXA eingesetzt werden.

3DPIXA compact 15µm

Die 3DPIXA compact 15µm ist ideal geeignet für schnelle und präzise 3D-Messungen. Mit der einzigartigen Kombination aus Zeilenkameratechnologie und schneller 3D-Stereoberechnung auf Grafikkarten liefert die 3DPIXA gleichzeitig 3D Daten und Farbbilder. Alle Beleuchtungsarten können prinzipiell zur Bilderfassung mit der 3DPIXA eingesetzt werden.

BGA Inspektion für 3DPIXA wave

In der Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lötverbindungen mit BGAs (Ball Grid Arrays) weit verbreitet. Prominenteste Beispiele sind die Montage von Mikroprozessoren. Die einzige Möglichkeit einer hundertprozentige Inspektion, ist, wenn jede Lotkugel dreidimensional vermessen wird.

Texturen in der Fasertechnologie analysieren

Die Online-Prüfung von Fasern kann für Messtechnikanbieter eine Herausforderung sein. Den Mitarbeitern des Fraunhofer IGCV ist es zusammen mit Industriepartnern gelungen, Faserdefekte in der Produktion zuverlässig zu erkennen. Im Rahmen des laufenden Projekt AirCarbon III wird beim Frauenhofer IGCV mit KI in der Fasertechnologie geforscht.

Mehrkanal Flash Funktion

Di., 14.07.2020

Mit der Kamera allPIXA pro, allPIXA wave und allPIXA evo können bis zu vier verschiedene Blitzsteuerungskanäle synchron zu ihrer Zeilenerfassung ausgelöst werden. Damit können mehrere Bilder mit unterschiedlichen Beleuchtungsgeometrien und/oder Farben (weiß, rot, grün, UV, IR) gleichzeitig in nur einem Scan durch Zeilenmultiplexing aufgenommen werden.

Technical Note - Halbleiter-Wafer-Prüfung mit allPIXA wave

Mi., 03.06.2020

Die Erfassung von Defekten ist für den Ertrag von Halbleiterwafer-Bauteilen entscheidend. In der Application Note wird beschreiben, wie die Halbleiterwafer-Herstellung die Vorteile der ultrahohen Auflösung von 15.360 Pixeln und der reichhaltigen Funktionen von Inline-Inspektionssystemen allPIXA wave trilineare Farb- und Mono-TDI-Zeilenkamera nutzen kann.

3DPIXA pro dual 30µm

Die 3DPIXA pro dual 30µm kombiniert modernste Zeilenkameratechnologie mit schneller 3D-Stereoberechnung auf Grafikkarten. Die Stereokamera liefert gleichzeitig 3D-Daten und Farbbilder. Diese Technologie ermöglicht es eine für die Anwedung optimierte Beleuchtung einzusetzen.

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