Halbleiter-Wafer-Prüfung mit allPIXA wave

Mo., 25.05.2020

Die Erfassung von Defekten ist für den Ertrag von Halbleiterwafer-Bauteilen entscheidend. Hier beschreiben wir, wie die Halbleiterwafer-Herstellung die Vorteile der ultrahohen Auflösung von 15.360 Pixeln und der reichhaltigen Funktionen von Inline-Inspektionssystemen allPIXA wave trilineare Farb- und Mono-TDI-Zeilenkamera nutzen kann.

3DPIXA wave dual 20µm

Die Chromasens 3DPIXA wave dual 20µm kombiniert State-of-the-Art Zeilenkameratechnologie mit schneller 3D-Stereoberechnung auf Grafikkarten. Die Stereo-Zeilenkamera liefert gleichzeitig 3D-Daten und Farbbilder. Diese Technologie ermöglicht es eine für die Anwedung optimierte Beleuchtung einzusetzen.

Inspektion der Steckerstifte

Dieser Bericht ist ein Beispiel für die Verwendung einer 3DPIXA und der 3DAPI zur Implementierung einer Messaufgabe für Steckverbinder.

CS-3D-Api | Semi-globales Matching

Mi., 15.01.2020

CS-3D-Api verfügt nun über eine GPU-Implementierung einer alternativen 3D-Rekonstruktionsmethode zum bestehenden Block-Matching (BM)-Ansatz. Der Ansatz basiert auf dem semi-globalen Matching (SGM)-Algorithmus, der an Objektgrenzen, feinen Strukturen und in schwach texturiertem Gelände sehr genau ist. Er kombiniert Konzepte von globalen und lokalen Stereomethoden für ein genaues, pixelweises Matching bei geringer Laufzeit.

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