News

TechTalk Webinare

Wir nehmen an 4 TechTalk Webinaren über die Bildverarbeitung, 3D-Messtechnik und Embedded Vision teil.

Technical Note - Halbleiter-Wafer-Prüfung mit allPIXA wave

Die Erfassung von Defekten ist für den Ertrag von Halbleiterwafer-Bauteilen entscheidend. In der Application Note wird beschreiben, wie die Halbleiterwafer-Herstellung die Vorteile der ultrahohen Auflösung von 15.360 Pixeln und der reichhaltigen Funktionen von Inline-Inspektionssystemen allPIXA wave trilineare Farb- und Mono-TDI-Zeilenkamera nutzen kann.

Inspektion der Steckerstifte

Dieser Bericht ist ein Beispiel für die Verwendung einer 3DPIXA und der 3DAPI zur Implementierung einer Messaufgabe für Steckverbinder.

COVID-19 Statement

Eine Erklärung von Peter Tix zu den von Chromasens ergriffenen Maßnahmen zur Sicherung der Lieferungen während der COVID-19-Krise.

Neues White Paper

Das Whitepaper gibt einen umfassenden Überblick über die Grenzen des Blockmatching-Ansatzes bei der Höhenrekonstruktion für die passive Stereoskopie. Es beschreibt eine Vielzahl von verschiedenen Artefakten, die bei bestimmten Bildmerkmalen auftreten.