News

TechTalk Webinare

Wir nehmen an 4 TechTalk Webinaren über die Bildverarbeitung, 3D-Messtechnik und Embedded Vision teil.

Technical Note - Halbleiter-Wafer-Prüfung mit allPIXA wave

Die Erfassung von Defekten ist für den Ertrag von Halbleiterwafer-Bauteilen entscheidend. In der Application Note wird beschreiben, wie die Halbleiterwafer-Herstellung die Vorteile der ultrahohen Auflösung von 15.360 Pixeln und der reichhaltigen Funktionen von Inline-Inspektionssystemen allPIXA wave trilineare Farb- und Mono-TDI-Zeilenkamera nutzen kann.

Inspektion der Steckerstifte

Dieser Bericht ist ein Beispiel für die Verwendung einer 3DPIXA und der 3DAPI zur Implementierung einer Messaufgabe für Steckverbinder.

Neues White Paper

Das Whitepaper gibt einen umfassenden Überblick über die Grenzen des Blockmatching-Ansatzes bei der Höhenrekonstruktion für die passive Stereoskopie. Es beschreibt eine Vielzahl von verschiedenen Artefakten, die bei bestimmten Bildmerkmalen auftreten.

Neue Anwenderstory

Zeilenbasiertes Stereo Visionsystem prüft Kugel- und Rollenlager zuverlässig mit hoher Geschwindigkeit. Lesen Sie hier die ganze Anwenderstory.

Schnelle 100% inline Druckinspektion für die Verpackungsindustrie

Die Qualitätskontrolle im Verpackungsdruck gehört zu den Königsdisziplinen für den Einsatz von schnellen Hochleistungs-Farbzeilenkameras. Der irische Machine Vision Spezialist OneBoxVision hat für diesen Anwendungsbereich eine „out of the box” Lösung zur 100% inline Kontrolle entwickelt. Eine CCD-Farbzeilenkamera von Chromasens ist zentraler Bestandteil dieser Lösung.